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PCB近場掃描儀支持多種操作模式進行工作探測

點擊次數:1838 更新時間:2020-07-01
 PCB近場掃描儀采用*設備的中空懸臂式近場探針實現超越衍射極限的光學分辨率。其也具備*的兼容性和擴展性,可與共聚焦光學/拉面顯微鏡及原子力顯微鏡集成在同一臺儀器上,僅需旋轉物鏡轉輪即可實現不同模式切換。
其多可以同時進行四探針測試,光纖探針各自獨立控制,可以同時分別、獨立進行如滴液、加壓,電學,熱學方面的測試等不同的工作。
 
PCB近場掃描儀操作模式: 
1.透射模式成像——樣品經過探針照明,光通過樣品并與樣品相互作用后被收集探測;
2.反射模式成像——樣品經過探針照明,光從樣品表面反射并被收集探測;
3.收集模式成像——樣品經遠場光源照明(從上或下面均可),探針將光信號從樣品表面收集;
4.照明收集模式成像——用同一根探針同時進行照明和收集探測反射光; 
 
特點:
1.高靈敏度,高分辨率,高動態范圍,能同時檢測極微量和高豐度樣品 
2.硬件和軟件的校正功能,提高掃描質量 
3.完整的16bit圖像,有利于準確定量 
4.可選擇波長,以降低背景,增加靈敏度 
5.多種掃描速率有利于更快的圖像攝錄 
6.密封掃描平臺,應用廣泛:適用于濕膠,雜膠膜,膠片等各種應用 
7.PCB近場掃描儀采用改進的透射方式,適合更厚的樣品分析

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